يهدف هذا المقرر الىشرح وفهم التقنيات التجريبية في دراسة المواد بما في ذلك القياسات الكمية لتوصيف المواد السائبة والأغشية الرقيقة ذات البنية الدقيقة والنانوية باستخدام المجهر الضوئي والإلكتروني والقوة الذرية والطرق الطيفية الجزيئية والذرية، مطيافية الكتلة الأيونية الثانوية (SIMS)، مطيافية الأشعة السينية الضوئية الإلكترونية (XPS)، مطيافية الإلكترون أوجيه (AES)، الأشعة السينية المشتتة للطاقة (EDX)، حيود الأشعة السينية، التحليل الحراري (DTA، TGA، DSC)، قياسات مساحة السطح والمسامية. تقنيات اختبار متقدمة ومريحة لتوصيف الخصائص البصرية والمغناطيسية والميكانيكية للمواد الدقيقة والنانوية